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肇 庆 学 院
电子与电气工程 学院 大学物理实验 课 实验报告
19 级 电气(1) 班 c1 组 实验合作者 钟某某 实验日期 2020年11月27日
姓名: 伍某某 学号: ***2106 老师评定:
实验题目: 霍耳效应实验
【实验目的】
在恒定直流磁场中测量砷化镓霍耳元件霍耳电压与霍耳电流的关系;
霍耳电流恒定时测量砷化镓霍耳元件在直流磁场下的灵敏度;
用砷化镓霍耳元件测量矽钢片材料的磁化曲线;
测量电磁铁沿水平方向的磁场分布。
【实验原理】1.霍耳效应
霍耳电势差是这样产生的:当电流 IH 通过霍耳元件(假
设为 P 型)时,空穴有一定的漂移速度? ,垂直磁场对运动电荷产生一个洛伦兹力。
F ? q (?? B )
(1)
式中 q 为电子电荷,洛伦兹力使电荷产生横向的偏转,由于样品有边界,所以有些偏转的载流子将在边界积累起来,产生一个横向电场 E ,直到电场对载流子的作用力 FE ? qE 磁场作用的洛伦兹力相抵消为止,
即
q ( ?? B ) ? q E
(2)
这时电荷在样品中流动时将不再偏转,霍耳电势差就是由这个电场建立起来的。
如果是 N 型样品,则横向电场与前者相反,所以 N 型样品和 P 型样品的霍耳电势差有不同的符号, 据此可以判断霍耳元件的导电类型。
设 P 型样品的载流子浓度为 p ,宽度为? ,厚度为 d ,通过样品电流 IH ? pq??d ,则空穴的速度
? ? pq?d
代入(2)式有
E ? ? ? B
? I H B
pq? d
(3)
- 1 -
上式两边各乘以? ,便得到
U ? E? ? IH B ? R ? B
/
(4)
H pqd
H IH g
d
RH ?
1
称为霍耳系数,在应用中一般写成
pq
UH ? IH KH B
(5)
比例系数 K
? RH ? 1 称为霍耳元件灵敏度,单位为 mV / (mAgT ) ,一般要求 K 愈大愈好。 K 与
/
H d pqd H H
载流子浓度 p 成反比,半导体内载流子浓度远比金属载流子浓度小,所以都用半导体材料作为霍耳元件。
KH 与厚度 d 成反比,所以霍耳元件都做得很薄,一般只有0.2mm 厚。
由公式(5)可以看出,知道了霍耳片的灵敏度 KH ,只要分别测出霍耳电流 IH 及霍耳电势差UH 就可算出磁场 B 的大小,这就是霍耳效应测磁场的原理。
用霍耳元件测磁场
磁感应强度的计量方法很多,如磁通法、核磁共振法及霍耳效应法等。其中霍耳效应法具有能测交直流磁场,简便、直观、快速等优点,应用最广。
直流可调电源 E1 为电磁铁提供励磁电流 IM 。电源 E2 通过为霍耳元件提供霍耳电流 IH , 当 E2 电源为直流时,可用一已知阻值的电阻取样其电压来测量霍耳电流,用数字电压表测量霍耳电压。
半导体材料有 N 型(电子型)和 P 型(空穴型)两种,前者载流子为电子,带负电;后者载流子为空穴,相当于带正电的粒子。由图可以看出,若载流子为电子则 4 点电位高于 3 点电位,UH 3g4 ? 0 ;若
载流子为空穴则 4 点电位低 3 点电位的,电位于UH 3g4 ? 0 ,如果知道载流子类型则可以根据UH 的正负
定出待测磁场的方向。
由于霍耳效应建立电场所需时间很短(经10?12 ~ 10?14 s ),因此通过霍耳元件 内容过长,仅展示头部和尾部部分文字预览,全文请查看图片预览。 .0
4.0
2.0
0.0
2.0
4.0
6.0
B/mT
155.5
155.6
155.7
155.6
155.6
155.4
155.4
X/mm
8.0
10.0
12.0
14.0
16.0
18.0
20.0
B/mT
155.3
155.0
154.8
143.1
63.3
32.6
20.6
作图:
/
图8 X 与 B 关系图
由图可知,磁场均匀区在 x=16mm 到x=-12mm 范围,可以认为磁感应强度比较均匀。
实验总结:写出自己实验时所获得的启示或掌握的知识。
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